隨著工業(yè)領(lǐng)域?qū)φ麢C(jī)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作顯得愈發(fā)重要。失效分析就是了解失效現(xiàn)象、判斷失效模式、定位發(fā)生失效的故障點、查找失效原因、弄清失效機(jī)理、預(yù)防類似失效情況再次發(fā)生。做集成電路失效分析方面的論文投稿哪些期刊?下面小編推薦的兩本刊物,以下是兩本期刊的簡單介紹。
《電子測量與儀器學(xué)報》是經(jīng)國家科委批準(zhǔn),由中國科協(xié)主管,中國電子學(xué)會主辦的國內(nèi)外公開發(fā)行的學(xué)術(shù)刊物。 始終以促進(jìn)電子測量技術(shù)學(xué)科事業(yè)的發(fā)展為宗旨,致力于及時反映本學(xué)科的科研新成果,溝通國內(nèi)外相關(guān)專業(yè)科技人員間的信息交流,鼓勵首創(chuàng)精神、倡導(dǎo)理論聯(lián)系實際的優(yōu)良學(xué)風(fēng),為將先進(jìn)的科學(xué)技術(shù)轉(zhuǎn)化為先進(jìn)的生產(chǎn)力,出成果、出人才提供了一個學(xué)術(shù)平臺。
《集成電路應(yīng)用》雜志立足于中國電子信息產(chǎn)業(yè),面向電子系統(tǒng)制造商與方案設(shè)計公司,致力于滿足技術(shù)管理人員對新技術(shù)、新方案以及市場信息的需求。期刊收錄集成電路失效分析方面的論文有“ 擴(kuò)頻通信集成電路SC1128的應(yīng)用”、“電壓襯度在CMOS集成電路失效分析中的應(yīng)用”等。
論文指導(dǎo) >
論文常見問題 >
SCI常見問題 >
SCI期刊目錄 >